高低溫試驗(yàn)箱與冷熱沖擊環(huán)境試驗(yàn)的區(qū)別  

    這兩款環(huán)境試驗(yàn)箱都是給產(chǎn)品做高低溫的實(shí)驗(yàn)的。它們有一個(gè)根本的差異是高低溫試驗(yàn)箱是看產(chǎn)品在降溫的過(guò)程中感測(cè)到產(chǎn)品的變化,而高低溫沖擊冷熱沖擊環(huán)境試驗(yàn)箱就沒(méi)有這個(gè)降溫過(guò)程，它是使產(chǎn)品頃刻間的感測(cè)到環(huán)境溫度的變化而變化的.

   高低溫試驗(yàn)箱用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)能力試驗(yàn)，以及環(huán)境溫度漸變?cè)囼?yàn)。還能夠?qū)﹄娮釉骷M(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。冷熱沖擊環(huán)境試驗(yàn)箱主要針對(duì)于于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行抗寒試驗(yàn)、環(huán)境溫度快速變化條件下的適應(yīng)能力環(huán)境試驗(yàn)箱，特別適用進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在高溫與低溫頃刻間變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能指標(biāo)，是否仍舊可以符合預(yù)定要求，以便于供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改善、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。